TSD系列温度冲击箱（三箱冲击）
TSD系列温度冲击试验箱采用试件固定不动，通过风门切换方式进行温度冲击，避免了一些特殊部件或小型零件在移动冲击过程中产生的影响，适用于电工电子元器件及其他产品整机、组件、零部件及材料的环境模拟、可靠性测试及应力筛选试验。
特点
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三箱式设计。 -
翻版时试件完全静止。
主要性能参数
工作室容积（L）：约80，150，252，364，504，1000
温度波动度（℃）：≤1（空载）
温度均匀度（℃）：≤2（空载）
温度偏差（℃）：±2（空载）
冲击范围（℃）：-40/-55/-60～+150
负载（kg）：5～50铝锭
暴露时间（min）：30
恢复时间（min）：≤5
转换时间（s）：≤15s
高温室预热温度范围（℃）：+60～+200，温度上升时间：常温～+200≤60min
TSD4**系列：低温室预冷温度范围：-70℃～0℃，温度下降时间：常温～-55℃≤60min
TSD5**系列：低温室预冷温度范围：-70℃～0℃，温度下降时间：常温～-65℃≤60min
详细技术参数
