TSM系列温度冲击箱（两箱冲击）
TSM系列温度冲击箱（两箱冲击）提供高温和低温两个试验空间，试件通过提篮在两个空间内转移，实现温度急剧变化的热冲击试验，适用于电工电子及其他产品整机、组件、零部件及材料的环境模拟、可靠性测试及应力筛选试验。
特点
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提篮式试件移动，转换时间短。 -
设备结构紧凑。
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工作室均匀性好。
主要技术参数
工作室容积（L）：486，1243
温度波动度（℃）：≤1（空载）
温度均匀度（℃）：≤2（空载）
温度偏差（℃）：±2（空载）
冲击范围（℃）：-40/-55/-65～+150
负载（kg）：5～40铝锭
暴露时间（min）：30
恢复时间（min）：≤5
转换时间（s）：≤15
高温室预热温度范围：+60℃～+200℃，温度上升时间：常温～+200℃≤60min
TSM4**系列：低温室预冷温度范围：-70℃～0℃，温度下降时间：常温～-55℃≤60min
TSM5**系列：低温室预冷温度范围：-70℃～0℃，温度下降时间：常温～-65℃≤60min
TSM6**系列：低温室预冷温度范围：-80℃～0℃，温度下降时间：常温～-70℃≤60min
详细技术参数
