光电器件
实验室配备了尖端的测试与分析设备，包括超高分辨率数字显微镜(3D OM)，超声波扫描设备, 超高分辨率显微镜(3D X-Ray), 高分辨率的电流电压测试仪器、纳米探针, 导电原子力显微镜, 失效亮点定位机台, 高分辨率的电子显微镜( TEM, SEM, DBFIB) , 可靠性测试台 以及静电电磁干扰与兼容性分析相关机台等，全面覆盖了光电器件测试需求。
试验项目
失效分析：非破坏分析、电性测试、失效点定位、破坏性物理分析、先进工艺DPA验证分析、工程样品封装服务、芯片结构分析/成分分析等。
材料分析：芯片电路修改、结构观察、晶体学分析、成分分析、光谱能量分析仪、失效样品分析等。
可靠性验证：板阶/焊点可靠性验证、工作寿命试验验证、设计与封装可靠性验证、电路设计、布局与调试等。
FT测试：功率器件动静态参数测试、芯片性能测试等。
服务对象
光电导器件、光伏器件、半导体发光器件、半导体受光器件等。
