我们非常重视您的个人隐私,当您访问我们的网站时,请同意使用的所有cookie。有关个人数据处理的更多信息可访问《隐私政策》

FT测试

集成电路验证与分析的芯片FT测试是确保半导体产品质量和性能的关键环节,涉及到从基本功能验证到高精度参数测量的多个方面。通过FT测试,制造商能够在芯片出厂之前发现潜在的缺陷和性能问题,从而保证最终产品的可靠性、稳定性和高质量,减少因缺陷而带来的市场风险。

FT测试.jpg
图片1.png