工作寿命试验验证
通过加速寿命测试，试验中施加热应力和电应力来加速产品的老化过程，从而在有效（较短）的时间内评估其长期寿命和性能。
能力配置
按产品分低功耗、中功耗、高功耗等类型，使用专用的寿命测试设备，通过设备、夹具(socket)或特殊装置对芯片进行加热，设备驱动板提供信号激励和电源到老化板(BIB)与夹具，使得产品进入工作状态，经由电压、温度、时间等加速因子交互作用下，达到产品老化的效果 ，并从试验结果预估出产品的平均故障时间(MTTF)及失效率(FIT)。
应用领域
电工电子产品、汽车产品、包装运输件、轨道交通产品、航空航天设备、核设备、船舶设备等。
试验项目
高温寿命试验、低温寿命试验、间歇工作寿命试验、功率温度循环试验、温湿度寿命试验、高加速应力试验、功率循环试验 (PCsec、PCmin) 。
